EDX 4500H X熒光光譜儀是一款專門用來(lái)檢測(cè)成分的儀器，礦粉，爐渣，不銹鋼成分，陶瓷成分，鑄造物件等，利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率：采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有好的分析精度；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500H；
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀；
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）；
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）；
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素；
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒；
探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV；
管壓：5KV-50KV；
管流：50μA-1000μA；
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體；
輸入電壓：AC 110V/220V；
環(huán)境溫度：15℃-30℃；
環(huán)境濕度：35%-70%；
外形尺寸：660mm×510mm×350mm；
樣品腔體積：Φ320mm×100mm；
重量：65Kg。

高效薄窗X光管；
數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好；
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比；
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好；
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍；
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元；
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣；
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度；
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制；
內(nèi)置高清晰攝像頭；
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然。

鋼鐵檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素等）、測(cè)試高爐渣、生鐵、燒結(jié)礦、球團(tuán)礦、白云石、膨潤(rùn)土、石灰石、普硅等，還可以廣泛應(yīng)用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。