EDX600增強(qiáng)型是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)門(mén)研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行*檢測(cè)。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)量元素范圍: 13鋁AI~92鈾U之間的元素均可測(cè)量
同時(shí)檢測(cè)鍍層及元素 可同時(shí)分析5層以上鍍層,并測(cè)量24種元素
檢出限 金屬鍍層分析*薄可達(dá)0.005μm
厚度范圍 分析鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)
厚度測(cè)試精度 <5%
含量測(cè)試范圍 0.1%--99.9%
含量檢測(cè)精度 <0.5%
穩(wěn)定性 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)1%
檢測(cè)時(shí)間 5-40秒
高壓?jiǎn)卧?emsp; 進(jìn)口大功率高壓?jiǎn)卧?
探測(cè)器及分辨率 140±5eV 大窗口SDD半導(dǎo)體Be窗探測(cè)器
X射線裝置 100W高功率微聚光W靶光管
多道分析器 DMCA數(shù)字多道分析技術(shù),分析道數(shù)4096道
準(zhǔn)直器和濾光片標(biāo)配 標(biāo)配Φ0.2mm;選配 0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.3mm或其他孔徑
*小測(cè)試直徑 Al或Ni濾光片Ф0.1mm
樣品觀察 工業(yè)級(jí)高敏感攝像頭,圖像可放大30倍,實(shí)現(xiàn)微小樣品清晰定位
樣品移動(dòng)平臺(tái) 手動(dòng)高精度移動(dòng)平臺(tái)
對(duì)焦 手動(dòng)測(cè)距對(duì)焦
分析方法 FP法與EC法兼容的鍍層厚度分析方法
安全性 FP法與EC法兼容的鍍層厚度分析方法
外型尺寸 用戶安全
樣品室尺寸 497(W)×427(D)×468(H)mm
415(W)×374(D)×218(H)mm
操作環(huán)境溫濕度 0~30℃,濕度≤70%
工作電源 交流220±5V
硬件配置:
采用高分辨率的SDD探測(cè)器,分辨率高達(dá)140EV
進(jìn)口的大功率高壓,讓Ag,Sn等鍍層的測(cè)量能更
加穩(wěn)定。
配備微聚焦的X光管,猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪
增壓,讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓。
多種準(zhǔn)直器可搭配選擇:
0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm;Φ0.3m
m。貼心打造出*適合您的那一款
設(shè)計(jì)亮點(diǎn):
全新的下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕,讓您的鼠標(biāo)
鍵盤(pán)不再成為必須,極大減少您擺放樣品的時(shí)
間。
全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)
了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)
正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱
形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的*測(cè)試。
結(jié)論:經(jīng)實(shí)測(cè),EDX600增強(qiáng)型針對(duì)鍍層厚度分析,尤其是微小樣品的厚度檢測(cè),有著非常*的穩(wěn)定性與精密
度,去測(cè)試效果可以與高倍數(shù)的電子顯微測(cè)試精度媲美。